網(wǎng)絡(luò)分析儀E8362B PNA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀
安捷倫PNA系列E8362B網(wǎng)絡(luò)分析儀10MHz-20GHZ
概述：
Agilent E8362B微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀110 dB的動態(tài)范圍，
<0.006 dB的跡線噪聲 <26微秒/點的測量速度，32個
Agilent E8362B/E8363B/E8364B微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
110 dB的動態(tài)范圍，<0.006 dB的跡線噪聲
<26微秒/點的測量速度，32個通道，16,001點
支持TRL/LRM校準，晶片上、夾具內(nèi)、波導(dǎo)和天線測量
混頻器轉(zhuǎn)換損耗、回波損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD和脈沖射頻
頻率范圍：10MHz-20/40/50GHz Agilent PNA系列微波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有無與倫
比的速度和精度，在對10MHz-110GHz的通用、高性能和毫米波器件進行測試時，
多有的難題都能迎刃而解。它具有針對PNA系列微波網(wǎng)絡(luò)分析儀的頻偏能力，為非
線性測量提供了業(yè)內(nèi)**的精度和易用性；其中包括混頻器和變頻器測試能力，
以及放大器IMD和諧波測量能力。
安捷倫PNA系列E8362B網(wǎng)絡(luò)分析儀10MHz-20GHZ
一、在使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀E8362B進行測試時會產(chǎn)生測量誤差。
誤差包括系統(tǒng)誤差、隨機誤差和漂移誤差。測量前必須對測試系統(tǒng)進行校準，以減小其系統(tǒng)誤差，提高測量精度。通常采用的方法就是用一組性能穩(wěn)定可靠的校準件在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀使用前接入網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)作為被測對象，考核其是否工作正常。校準后矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的準確度提高，滿足對產(chǎn)品中使用的射頻微波器件的性能指標S參數(shù)進行測量。
二、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀誤差來源
1、漂移誤差：是由于進行校準之后儀器或測試系統(tǒng)性能發(fā)生變化所引起，主要有溫度變化造成。
2、隨機誤差：是不可預(yù)測的且不能通過校準予以消除，主要隨時隨機變化。然而，有若干可以將其對測量精度的影響減至*小的方法，以下說明隨機誤差的三個主要來源。
<1>儀器噪聲誤差：是分析儀元件中產(chǎn)生的不希望的電擾動。這些擾動包括由于接收機的寬帶本底噪聲引起的低電平噪聲；由于測試裝置內(nèi)部本振源的本底噪聲和相位噪聲引起的高電平噪聲或跡線數(shù)據(jù)抖動。
<2>開關(guān)重復(fù)性誤差：分析儀中使用了用來轉(zhuǎn)換源衰減器設(shè)置的機械射頻開關(guān)，有時機械射頻開關(guān)動作時，觸點的閉合不同于其上次動作的閉合。在分析儀你內(nèi)部出現(xiàn)這種情況時，便會嚴重影響測量的精度。
<3>連接器重復(fù)性誤差：是由于連接器的磨損會改變電性能。
3、系統(tǒng)誤差：是由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和測試裝置中的不完善性所引起，是重復(fù)誤差（因而可以預(yù)測），且假定不隨時間變化。系統(tǒng)誤差中的各項誤差都是矢量，一旦其矢量特征（幅度和相位）已知，這些誤差可以通過數(shù)學(xué)的運算從原始的測量中減去。利用校準件可以達到減小誤差的目的。
<1>反射測量產(chǎn)生下列三項系統(tǒng)誤差：方向性、源匹配、頻率響應(yīng)反射跟蹤。
<2>傳輸測量產(chǎn)生下列三項系統(tǒng)誤差：隔離、負載匹配、頻率響應(yīng)傳輸跟蹤。
三、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準
1、在日常工作中，我們不僅要知道網(wǎng)絡(luò)分析儀是否工作正常，更重要的是要知道其測量誤差究竟有多大，這就需要選擇一組能**考察網(wǎng)絡(luò)分析儀測量參數(shù)的標準件對其校準配件一致。
2、校準類型分為：開路響應(yīng)、單端口反射、短路響應(yīng)、全SOLT雙端口、直通響應(yīng)、全TRL雙端口、直通響應(yīng)+隔離、全SOLT3端口。
3、校準方法：無引導(dǎo)校準、有引導(dǎo)校準、Ecal。
4、校準后系統(tǒng)誤差修正：方向性、源匹配、隔離、負載匹配、頻率響應(yīng)傳輸統(tǒng)調(diào)、頻率響應(yīng)反射統(tǒng)調(diào)。
5、在實際工作中通常選擇全SOLT雙端口有引導(dǎo)校準的模式，具體校準步驟如下：
<1>校準配件定義必須與所用實際校準配件一致，進行引導(dǎo)式校準時，PNA將顯示下列對話框：
SelectDUTConnectorss（選擇被測件的連接器）
SelectCalKits（選擇校準配件）
Preview/ModifySettings（預(yù)觀察/修改設(shè)置）
GuidedCalibrationStep（引導(dǎo)校準步驟）
<2>選擇校準配件及DUT連接器類型
<3>設(shè)定頻率范圍
有兩種設(shè)定頻率范圍的方法：規(guī)定范圍的起始頻率和終止頻率；規(guī)定中心頻率范圍的所需間隔。中頻帶寬設(shè)置為1KHz；為了確保**測量校準，應(yīng)進行用于測量的相同點數(shù)的校準，為了找出*佳點數(shù)，應(yīng)尋求一個在增加點數(shù)時測量并無顯著差別的值，為了實現(xiàn)更快的吞吐率，應(yīng)利用能給出可接受精度的*少數(shù)據(jù)點數(shù)，掃描時間默認。PNA在所選定的測量設(shè)置下自動保持盡可能快的掃描時間。
<4>按照矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀引導(dǎo)步驟進行SOLT雙端口校準。
<5>校準結(jié)束后會出現(xiàn)求助對話框
允許退出校準驅(qū)動程序或繼續(xù)儲存選擇項
No.Finshnow.退出校準驅(qū)動程序。
Yes允許選擇儲存選擇項。
Finish完成下列操作：
將校準設(shè)置存儲到存儲器中
啟動修正
退出校準驅(qū)動程序
按照工作需求選擇，選擇Finish后兩端口之間即可加入被測件進行參數(shù)測量
。
四、應(yīng)用實例
應(yīng)用本校準方法對標量混頻器校準，實行雙端口校準：一端在DUT的輸入頻率上，另一端在其輸出頻率上（如果DUT是線性器件，則校準只用輸入頻率范圍），可利用機械的校準工具箱，接功率計探頭到PNA的端口1，在輸入和輸出頻率的每一步驟上對功率探頭的輸入匹配和PNA的源功率進行測量。在DUT測量過程中，PNA利用校準的結(jié)果來降低測量誤差，實踐證明：在DUT測量過程中，PNA利用校準的結(jié)果來降低測量誤差，校準是改善測量精度的十分有效的手段。
本文介紹了矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀E8362B誤差來源及其校準，通過詳細討論全SOLT雙端口校準，利用校準件**已知或可預(yù)示的幅度和相位隨頻率變化的響應(yīng)，進行校準，提高矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度，達到減小測量誤差的目的，使測量誤差降低到*小程度。
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