HP4339A/回收4339A 主要特性與技術(shù)指標(biāo) 肖經(jīng)理134-3362-4549

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測(cè)量范圍
寬量程：: 103ohm 至 1.6x1016ohm
測(cè)量速度
高速測(cè)量: 10 ms

穩(wěn)定的測(cè)試夾具：電阻系數(shù)單元、元器件測(cè)試夾具
測(cè)試序列編程
電阻系數(shù)計(jì)算
接地被測(cè)件測(cè)量

Agilent 4338B低電阻測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量參數(shù)：R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率)，pv(體電阻率)。
測(cè)量范圍：電阻1*103Ω至 1.6x1016Ω；電流60fA至100uA。
基本測(cè)量精度：0.6%。
測(cè)量速度：*快10 ms測(cè)量時(shí)間。
測(cè)試序列程序：控制一系列電阻測(cè)量。充電時(shí)間、測(cè)量間隔時(shí)間和測(cè)量次數(shù)可以編程。
接觸檢查功能：可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障，附加時(shí)間2ms。
穩(wěn)定的測(cè)試夾具：比電阻盒、元件測(cè)試夾具。
計(jì)算電阻率。
通過(guò)GPIB借口控制設(shè)置。


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